头颅CT能诊断新生儿缺氧缺血性脑病吗 [复制链接]

HIE入院时

HIE2月后新生儿缺氧缺血性脑病（hypoxicischemicencephalopathy,HIE）是指各种围生期窒息引起的部分或完全缺氧，脑血流减少或暂停而导致胎儿或新生儿脑损伤。多发生在窒息的足月儿，但也可发生在早产儿。HIE发病率和病死率高，病情严重者常留有严重的后遗症。

新生儿HIE是新生儿脑损害常见原因，目前认为是由于宫内或出生时窒息、缺氧引起的代谢障碍，细胞损伤以及血管调节机制障碍，脑血流减少等因素引起的。其主要病理改变是脑水肿、软化、坏死及颅内出血。临床有明确围产缺氧史，特别是重度窒息，症状大多在出生后3d内出现；以神志改变，肌张力低下及呼吸暂停为主。新生儿脑组织代谢最旺盛，耗氧量占全身耗氧量的一半，对缺氧缺血非常敏感，严重时出现代谢性和呼吸性酸中*，从而导致一系列连锁反应，产生大量的氧自由基，导致脑组织灌注损伤，细胞膜损害，血脑屏障的结构及完整性受到破坏，从而加重脑组织的损害。缺氧主要引起脑组织水肿及神经元坏死，而缺血主要引起脑血管通透性增高，产生血管源性脑水肿，进一步加重脑缺血，继之发生脑坏死及白质软化。

新生儿缺氧缺血性脑病诊断根据是出生前后有缺氧病史，生后要脑病表现，结合头颅核磁共振检查，明确诊断。有些家长因为孩子患有新生儿缺氧缺血性脑病而焦虑万分，当问到什么表现，家长拿出头颅CT片说，是根据头颅CT片诊断的。头颅CT片显示有低密度。是因为系新生儿期脑细胞及髓鞘均没有发育好，含水量高所致所致。无上述病史，不能凭CT片显示有低密度诊断脑病或脑瘫。